电子电器产品在使用、运输及贮存过程中,常面临高温或低温环境。高低温环境试验通过模拟这类极端条件,检验产品的环境耐受能力,其中国家标准 GB/T 2423.1-2008(低温试验 / 试验 A)与 GB/T 2423.2-2008(高温试验 / 试验 B),分别明确了具体测试要求。
一、试验目的
两项试验核心目的是确定产品在低温或高温环境中,能否维持正常使用、运输及贮存能力,重点评估产品在稳定温度条件下的性能表现。
二、试验对象
非散热样品:测试时自身不发热或发热量极小的产品(如多数元件、不通电设备)。
散热样品:测试时自身会产生热量的产品(如通电运行的设备),判定标准为:样品表面高热点温度较周围空气温度高出 5K 及以上。
三、试验方法
根据样品类型与通电要求,试验分为以下类别:
试验 Ab/Bb(非散热样品适用):温度呈渐变趋势(速率不超过 1K / 分钟),通常采用高气流速度循环(便于温度快速稳定)。样品一般处于非工作状态测试,待温度稳定后,可根据需求通电检测。
试验 Ad/Bd(散热样品适用):温度呈渐变趋势,采用低气流速度循环(模拟实际使用环境),样品需在温度稳定后再通电运行。
试验 Ae/Be(散热样品且需全程通电适用):温度呈渐变趋势,采用低气流速度循环。样品放入试验箱后即通电,随后启动温度变化程序。
四、关键参数
温度:标准提供多组可选温度点
低温(GB/T 2423.1-2008):-65℃、-55℃、-50℃、-40℃、-33℃、-25℃、-20℃、-10℃、-5℃、+5℃;
高温(GB/T 2423.2-2008):覆盖 + 30℃至 + 1000℃,包含 + 40℃、+55℃、+70℃、+85℃、+100℃、+125℃、+155℃等常用节点。
持续时间:标准给出建议时长,例如低温试验常用 2h、16h、72h、96h,高温试验常用 2h、16h、72h、96h、168h 等。具体温度与时长需结合产品规范或应用环境确定。
五、重要注意事项
包装要求:稳态试验时,通常需去除包装测试(除非产品规范要求带包装,或发热元件与包装不可拆分)。
温度监控:需精确测量试验箱工作空间的空气温度,传感器布设位置应避免受样品散热影响。
恢复流程:试验结束后,样品需在试验箱内或标准环境中静置恢复足够时间(至少 1h),待其温度稳定后,方可开展检测。
气流速度:针对散热样品,低气流速度是核心要求,标准中明确了确认试验箱气流速度是否达标的方法。
GB/T 2423.1-2008(低温)与 GB/T 2423.2-2008(高温)是评估电工电子产品耐温性能的基础性标准。明确产品属于散热型还是非散热型,以及测试时是否需全程通电,是正确选择试验方法(Ab/Ad/Ae 或 Bb/Bd/Be)的核心前提。试验的温度节点与持续时间,需结合产品实际应用场景确定,严格遵循标准开展测试,可有效验证产品在极端温度环境下的可靠性。







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