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HAST试验箱

HAST试验箱

高加速寿命试验箱(HAST试验箱)是一种用于进行高加速应力测试的设备。它主要用于评估电子元器件、电路板和其他电子产品在恶劣环境条件下的可靠性和耐久性。

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适应范围

适用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温、高湿、高压等信赖性试验等行业。


测试项目

HAST测试项目主要包括:电性能测试、可靠性测试。其中,电性能测试包括电阻、电容、电感等参数的测试;可靠性测试则包括在高温高湿条件下的耐压、绝缘电阻、外观等项目的测试。


测试范围

温度范围:105~142.9℃

湿度范围:75%~100%RH

压力范围:0.02~0.186Mpa


测试依据

《半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)》 GB/T 4937.4-2012

《高加速湿热应力试验》JESD22-A110D-2010

《非气密固态表面贴装器件 潮湿/再流焊敏感度分级》IPC/JEDECJ-STD-020D.1-2008


试验照片


  • HAST试验箱1.jpg

    试验设备

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