电子元器件的环境与可靠性试验

可靠性试验是为了确定已通过可靠性鉴定试验而转入批量生产的产品在规定的条件下是否达到规定可靠性要求，验证产品的可靠性是否随批量生产期间工艺，工装，工作流程，零部件质量等因素的变化而降低。只有经过这些，产品性能才是可以信任的，产品的质量才是过硬的。
 
可靠性检测
一、机械完整性试验项目
1、机械冲击：确定光电子器件是否能适用在需经受中等严酷程度冲击的电子设备中。冲击可能是装卸、运输或现场使用过程中突然受力或剧烈振动所产生的。
2、变频振动：确定在规范频率范围内振动对光电子器件各部件的影响。
3、热冲击：确定光电子器件在遭受到温度剧变时的抵抗能力和产生的作用。
4、插拔耐久性：确定光电子器件光纤连接器的插入和拔出，光功率、损耗和反射等参数是否满足重复性要求。
5、存储试验：确定光电子器件能否经受高温和低温下运输和储存。
6、温度循环：确定光电子器件承受很高温度和很低温度的能力，以及很高温度和很低温度交替变化对光电子器件的影响。
7、恒定湿热：确定密封和非密封光电子器件能否同时承受规定的温度和湿度。
8、高温寿命：确定光电子器件高温加速老化失效机理和工作寿命。

 
二、加速老化试验
在光电子器件上施加高温、高湿和一定的驱动电流进行加速老化。依据试验的结果来判定光电子器件具备功能和丧失功能，以及接收和拒收，并可对光电子器件工作条件进行调整和对可靠性进行计算。
1、高温加速老化：加速老化过程中的基本环境应力式高温。在实验过程中，应定期监测选定的参数，直到退化超过寿命终止为止。
2、恒温试验：恒温试验与高温运行试验类似，应规定恒温试验样品数量和允许失效数。
3、变温试验：变化温度的高温加速老化试验是定期按顺序逐步升高温度（例如，60℃、85℃和100℃）
4、温度循环：除了作为环境应力试验需要对光电子器件进行温度循环外，温度循环还可以对管电子器件进行加速老化。温度循环的加速老化目的一般不是为了引起特定的性能参数的退化，而是为了提供封装在组件里的光路长期机械稳定性的附加说明。
 
三、物理特性测试项目
1、内部水汽：确认在金属或陶瓷封装的光电子器材内部气体中水汽含量。
2、密封性：确认具有内空腔的光电子器材封装的气密性。
3、ESD阔值：确认光电子器材受静电放电效果所造成损害和退化的灵敏度和敏锐性。
4、可燃性：确认光电子器材所运用资料的可燃性。
5、剪切力：确认光电子器材的芯片和无源器材安装在管座或其他基片上运用资料和工艺的完整性。
6、可焊性：确认需要焊连的光电子器材引线（直径小于30175mm的引线，以及截面积适当的扁平引线）的可焊性。
7、引线键合强度：确认光电子器材选用低温焊、热压焊、超声焊等技能的引线键合强度。
 
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